Измерение овальности  Производители, Продавцы, Поставщики

For more than 20 years Lamtech Lasermesstechnik develops and produces interferometers for the from testing of parts, as well as evaluation software and customized opto-mechanical systems.
The emphasise lies on interferometers for the non-contact flatness check of technical precision surfaces. The interferometers are placed within production lines, measuring rooms as well as the 100% control.
Due to the in-house research and development, Lamtech Lasermesstechnik can easily adapt towards customer-specific measurement requirements.

Фирма LAP разрабатывает, производит и реализует лазерные системы
измерений, линейные лазеры и лазерные проекторы для промышленности,
ремесла и медицины уже более 20 лет.
Наши клиенты используют наши системы на основе лазеров, чтобы
улучшить качество своих продуктов и услуг и повысить эффективность
производственных
процессов. Мы предлагаем стандартные компоненты и индивидуальные
решения для клиентов. И компоненты, и комплексные системы могут
разрабатываться и производиться по данным клиента.
По линейным лазерам и лазерным проекторам для выравнивания и
позиционирования в промышленности и ремесленном производстве фирма LAP
занимает ведущие позиции в Европе.
В металлургической промышленности LAP является ведущим производителем систем лазерных измерений.
В отраслях лучевой терапии, радиационной медицины и
радиологической диагностики лазерные системы от LAP достигли мирового
масштаба в сфере позиционирования пациентов.

FRT является одним из ведущих мировых поставщиков 3D-метрологии для НИОКР и массового производства. FRT MicroProf® зарекомендовал себя на рынках полупроводников, передовой упаковки, МЭМС, VCSEL, автомобилестроения, машиностроения, оптики, светодиодов и медицины.
Ультрастабильная платформа третьего поколения и собственное программное обеспечение являются результатом более чем 25-летнего опыта. Мультисенсорная концепция FRT и гибридная технология измерения поддерживают производственные линии по всему миру. Приложения являются бесконтактными и полностью автоматическими. Измеряемые параметры: топография, высота ступеньки, шероховатость, TTV, кривизна, коробление, натяжение, толщина слоя и штабеля, наложение и CD - и многие другие.
Различные методы измерения можно комбинировать с датчиками точек, линий и площадей, а также с датчиками толщины слоя и атомно-силовыми микроскопами в одном измерительном устройстве и рецепте.
Удостоенные многих наград измерительные системы предоставляют (также полностью автоматически) информацию о топографии, структуре, высоте ступеньки, шероховатости, износе, толщине слоя и многих других параметрах, бесконтактно и неразрушающе.
В зависимости от области применения в одном измерительном устройстве могут быть объединены различные методы измерения с помощью точечных, линейных, площадных датчиков, датчиков толщины слоя, а также атомно-силовой микроскопии - диапазоны измерений могут простираться от метрового до субнанометрового диапазона.